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XR-100CR是一種新的高性能X射線探測器，包括前置放大器和制冷系統，通過熱電法冷卻的Si-PIN光電二極管作為X射線探測器。在二級制冷系統上還裝有輸入場效應管和一個新型的反饋電路。這些組件大約-55的環境下工作，其溫度由一個內置的溫度傳感器控制。探測器的密封TO-8包裝有一個缽薄膜窗口，用于軟X射線探測。XR-100T-CdTe 代表在X-射線探測器技術的一個突破，可提供"現成的"結果，而以前則只能從昂貴的低溫冷卻系統得到。另外XR-100T-CdTe還適用于伽馬射線的測量。

X射線熒光

ROHS/WEEE標準

便攜式儀器

原始設備制造

核醫學成像

教學研究文物考古

程控

穆斯堡爾譜儀

空間物理和天文學

環境X射線檢測

有毒物垃圾場監測

粒子誘發X射線熒光分析

XR-100CR

◇149eV的分辨率，全固態無液氮設計

◇SI-PIN光敏二極管，二級熱電冷卻器

◇內置溫度控制監測檢測器，密封的鈹檢測窗

◇檢測范圍廣，操作簡單

XR-100SDD

◇高計數率——5000，000 CPS

◇對峰值5.9keV的分辨率為139eV

◇High Peak-to-Background Ratio - 6500:1

◇規格為：7 mm2 * 500 µm

◇無液氮

XR-100CdTe

◇CdTe二極管探測器，熱電冷卻器（Peltier）

◇FET冷卻，溫度監控器

◇鈹檢測窗，密封包裝（TO-8）AXAS 系統

AXAS系統集成了記錄計數率在1.000.000 計數/s以上的超快MCA和SDD （硅漂泊二極管）。利用MCDWIN MCA 軟件，AXASMCA可以成為非常小的完全分光計，從而使獲取光譜變得很容易。它還可以通過USB接口讀取數據，因此該系統可以通過便攜式計算機在任何地點工作。

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XR-100CR詳細參數

探測器類型：硅針探測器（Si-PIN）

探測器尺寸：5 mm2---25 mm2

硅厚度：300µm，500µm，680µm

能量分辨率（5.9kev，55Fe）:半峰寬145eV-230eV(取決于探測器種類和形成時間常數)

背景記數：〈3*10-3/s，2KeV-150KeV(針對7mm2/300um探測器)

探測器鈹窗厚度：1mil(25µm)或0.5mil(12.5µm)

電荷敏感前置放大器：用戶定制設計

增益穩定性：〈20PPM/（典型）

尺寸：3.75*1.75*1.13in(9.5*4.4*2.9cm)

重量：4.9盎司（139克）

總功率：〈1瓦

器件壽命：5-10年

操作環境：0-40

認證：TUV

前置放大器功率：正負8-9V，15mV(不超過50mV的蜂噪音)

探測器功率： 100V-200V，1µA（取決與探測器類型），非常穩定，偏差〈0.1%

制冷器功率：電流**值為350mA，電壓**值為4V（峰噪音〈100mV，）

前置放大器靈敏度：典型值1mV/KeV(對于不同的探測器可能有差異)

前置放大器極性：負信號輸出（**負載1K歐姆）

前置放大器反饋：通過探測器電容進行重置

溫度監控靈敏度：PX4通過軟件直接讀取開爾文溫度