粉體行業在線展覽
粉體行業在線展覽
直接聯系
AMPTEK INC.
美國
面議
696
Amptek獲得**的“ C系列” X射線窗利用氮化硅（Si3N4）和鋁涂層來將我們的硅漂移檢測器（SDD）的低能量響應擴展到硼（Be）。
C1 Windows：實驗室，臺式和手持式儀器。
C2 Windows：掃描電子顯微鏡（SEM）中的真空應用程序和EDS（EDX）。C2窗在*低能量下具有更高的效率
C2窗FASTSDD測試Be和C譜圖
C2窗與聚合物窗效率對比
FASTSDD典型分辨率
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M
