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S1 TITAN 手持式XRF光譜儀

快速分析速度和出色的準確性是S1 TITAN手持式XRF光譜儀的兩個關鍵特點。

其他創(chuàng)新特色包括集成觸摸屏彩色顯示屏，50 kV X射線光管，SMART Grade^TM計時器，SharpBeam^TM優(yōu)化X射線光路，硅漂移探測器（SDD）以及極其堅固和密封性能很好的外殼，可防止潮濕和灰塵的污染。

S1 TITAN系列有四（4）種配置：型號 800，600，500 和300.所有型號均采用Bruker的SharpBeam TM技術。S1 TITAN 800和600使用大面積CUBE(TM）SDD探測器，為您提供極快的分析速度。S1 TITAN 500配置了快速，準確且經濟實惠的標準SDD探測器。S1 TITAN 300配置有經濟的Si-PIN探測器。此外，S1 TITAN可配置分析各種樣品的校準曲線 - 包括各種合金，礦石和環(huán)境樣品以及限制材料。

SharpBeamTM技術

S1 TITAN手持式XRF光譜儀獲得SharpBeamTM技術優(yōu)化了探測器和光管的幾何結構。優(yōu)化的幾何結構提供了許多好的效果，包括：

• 降低功率需求

• 減輕重量

• 提高測量精度

• 提高檢出限

• 延長電池壽命

S1 TITAN手持式XRF光譜儀現在可以選配集成攝像頭和/或小光斑準直器。

得益于S1 TITAN的SharpBeam TM優(yōu)化幾何結構，測量的精度和準確度與正常光斑相同 – 即無需延長測量時間即可達到所需的精度。攝像頭選配適用于S1 TITAN 800和600. 所有型號的標準光斑尺寸是5mm，但S1 TITAN 800可選配8mm或3mm光斑。

• 可用的校準包括：合金，黃金和貴金屬，塊體材料（電子廢料和催化轉化器），土壤，礦石，受限材料和客戶特殊的材料

• **的大面積SDD探測器技術

• **的計數率和分辨率（與上一代SiPIN儀器相比）

• 比前幾代更快

• 檢出限更低

• 輕松分析鎂，鋁和硅等輕元素，無需真空或氦氣（限S1 TITAN 800和600）