Smartlab SE 產品特征

先進的高速探測器

交叉光路技術 ：CBO （理學**）

CBO 是理學**的光路切換單元 ，使用CBO僅需要對狹縫更換即可 完成兩種不 同的光路幾何之間的切換。SmartLab SE 可以根據用戶 需求提供三種不同的CBO單元的組合 ：Bragg-Brentano 聚焦光束／平 行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／會聚光束，B「agg-Brentano 聚 焦光束／發散光束。

B舊gg”Brentan 聚焦法 ：衷方法多用于常規粉末 XRD） lj試。

平行光束法 （CBO） ：多層膜拋物面鏡使發散的光束變為平行光 。 該光束多用于SAXS ，薄膜樣品或表面粗糙樣品的測試等。

會聚光束法 （CBO-E） ：發散的光束通過具有橢圓形鏡面的多層膜 透鏡會聚于被測表面 ，該光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的數據。

發散光束法 （CBO α）：光束被平面 多層膜鏡單色后，只有 Kα，相 比Bragg-Brentano 可以增加數據的峰背比。

測量及數據分析軟件包 Smartlab Studio 11

Sma「tlab Studio II 是一個功能強大、操作界面友好的軟件包 ，其中整合了所有的光路調整，數據測試和分析的 功能。用戶可以通過不同組件的切換選悻所需的功能 ，例如“測試” 、“粉末數據分析” 、“極圖” 、℃DF分析”或“殘 余應力”等功能。所有這些功能都集中于 同一個界面友好且容易操作 的軟件操作平臺。

智能光路感知功能

由于光學組件可以被儀器自 動識別 ，使用理學的Guidance 軟件可以通過演示動畫指導用戶更換光路或附件 。

除此之外，對于常見的應用 ，軟件包中預設有推薦的光路 設置 、樣品校正和測量序列 ，可以嗎助初學者盡快熟悉井 完成所需的測試。

流程圖式的測試引導欄

Sma『tlab Studio 川 采用了簡潔的流程圖式的引導欄，從測 試到數據分析的整個過程中 ，通過提示關鍵步驟 ，更加直 觀的幫助測試人員者理解每步操作。

綜合信息管理系統

Smartlab Studio II 采用了先進的 SOL數據管理模式，于本 地數據庫中高效的管理測試材料信息 、測試數據及數據分 析結果 。SOL數據庫具有出色的數據檢索和備份功能 ，可以輕松處理海量測試信 息.

Smartlab SE 可根據應用需求調整配置

反射／透射 模式下的粉末衍射測量

反射模式光路配置

• Bragg-Brentano 聚焦法

．平行光束法

·發散光束法

用戶可以根據測量需要在反射模式和透射模式 間切換。使 用會聚光束進行透射法測試 ，可以獲得更高的強度和更好 的分辨率。

0.1 質量分數% 石棉 （溫石棉） 分散于碳酸鈣中 一束發散的X射線經過平面鏡單色后進行衍射實 驗 ，相比于傳統的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式，可以獲得更高的信背 比。從衍射實驗結果中可

以看出，？自量的石棉衍射信號都可 以被檢測到 。

透射模式光路配置

·聚焦光束法

·平行光束法

（上圖展示的是垂直模式下的透射測試光路）

分別用反射法和透射法測試藥 片的X射線衍射峰 藥物片劑一般由含有甜昧的輔料及可食用色素構 成，可以有效的降低藥片在吞咽時的苦澀感。藥片 表面的成分可以通過反射法進行測試 ，而藥片內部的信息可以通過透射法獲得。

微區衍射測試

采用理學專有的 CBO-f光學附件，該附件可以使X射線會聚于 樣品表面，而不再需要調整×射線從線光源到點光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探測器或 HyPix-400 二 維半導體陣列探測器可以快速的檢測到微區實驗中弱的衍射 信號。

微區測試應用于即刷電路板

(1） 電容器 （2) IC 芯片 （3） 焊點 采用CBO-f 和 HyPix-400 測試。

極圖／殘余應力測試

使用線光源在極圖測量時 ，可以降低由于使用Schulz狹縫 時，衍射強度隨試樣傾角的增加而降低的情況 ，其測試效果與點光源一致。軟件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以進行晶體取向分析井且可以通過重新計算得到樣品的全極圖。

在殘余應力測試中 ，使用平行狹縫分析器 （ PSA） 可以有效 的降低由于位移誤差造成的峰位漂移 。

重新計算后生成的鋁錨片的全相極圖

測試中使用了 ，α日 樣品臺 ，反射附件 ， Schulz挾縫。全相極圖是基于三個不 同的 米勒指數面 仆仆，200 和 220 ） 的測試結 果，通過ODF重新計算得來的 。

小角X射線散射（SAXS)

SAXS測試可以獲得粒徑或孔徑小于 100nm的材料的分布情 況，衷測試過程中 28角度移動范圍小于 10。。SAXS測試過程 中，使用雙挾握和平行光光路系 統。／使用真空光路 ，可以減小空氣散射的影響 ，從而獲得高質量 的數據。

10 SAXS測試分散于 甲苯中的金粒子 （雙 狹縫光學系統）

原位測試

原位 （ In-situ ） 測試技術 ，可以通過測試人員的控制，改變 溫度或濕度，同時測量衍射數據的變化。Smartlab SE支持 各種原位測量附件 ，如常見的變溫附件 ，濕度控制附件，使 用DSC附件還可以監測樣品在熱反應前后的變化 。多種原位 附件與HyPix400半導體陣列檢測器的結合 ，使得快速的實時 測量成為可能 ，不僅可以鑒定結構的變化 ，還可以檢測大尺 寸晶粒和晶面取向的變化。

相變屬蟲化過程，甲糖寧是一種治療糖尿病的 藥物J 監測其在變溫過程中物象的變化。 隨著溫度的變化，甲糖寧的晶體結構發生改 變。使用二維半導體陣歹I］探測器HyPix-400， 可以監測其在眼熱反應 （峰） 前后晶體結構 的變化。