粉體行業在線展覽
逸出功能譜儀
面議
凡遠光電
逸出功能譜儀
875
逸出功能譜儀--**
逸出功能譜儀主要參數
測量原理 | PYS | ||
測量范圍(eV) | 3.40 - 7.50 | 4.00 - 9.54 | |
*小測量間隔(eV) | 0.01 | ||
重復性(標準偏差) | 0.02 | 0.015 | |
熱機時間( Min) | 25 | ||
光斑尺寸(mm) | 1×2 | ||
可測樣品尺寸 | W60×H50 mm(Max) D10 mm(Max) | ||
測量環境 | 空氣、氮氣、真空 | ||
可測樣品類型 | 粉末、薄膜、金屬材料、半導體材料、ITO、FTO、OLED有機光電材料、有機太陽能材料、鈣鈦礦材料、富勒烯/石墨烯衍生物、碳納米材料、鋰電池材料等。 | 除IPS-3可測樣品范圍外,還包括:TCNQ衍生物材料、QD光電材料、無機太陽電池材料、金屬氧化物/硫化物材料、水氧敏感型材料等。 |
逸出功能譜儀-實測案例
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