粉體行業(yè)在線展覽
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測(cè)量/計(jì)量?jī)x器
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其他
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鋰電行業(yè)專(zhuān)用測(cè)試系統(tǒng)
農(nóng)業(yè)和食品專(zhuān)用儀器
危險(xiǎn)化學(xué)品檢測(cè)專(zhuān)用儀器
藥物檢測(cè)專(zhuān)用儀器
面議
432
CCD 光電性能測(cè)量系統(tǒng)又稱(chēng)CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測(cè)試設(shè)備。本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計(jì)及輻射校正設(shè)計(jì)及為光電成像器件受輻照后性能變化的機(jī)理研究提供檢測(cè)手段等諸多科學(xué)問(wèn)題;同時(shí)能夠在業(yè)界對(duì)光電成像器件抗輻射性能評(píng)價(jià)的標(biāo)準(zhǔn)化和規(guī)范化起到積極推進(jìn)作用。
技術(shù)指標(biāo)
工作光譜波段:380nm~1000nm
光譜分辨率:20nm~40nm
A/D 量化等級(jí):14bit
動(dòng)態(tài)范圍:80dB
測(cè)量**值不確定度:低于8%
重復(fù)性誤差:不大于3%
測(cè)試內(nèi)容
飽和輸出電壓(SV)
飽和曝光量 (SE)
光輻照響應(yīng)度(燈光照明下的R)
相對(duì)光譜響應(yīng)度 Rs
響應(yīng)度非均勻性(PRNU)
電荷轉(zhuǎn)移效率(CTE)
光譜和白光傳遞函數(shù)(MTF)
暗信號(hào) (DS)
暗噪聲 (vNOISE )
噪聲等效曝光量(NEE)
動(dòng)態(tài)范圍 (DR)
非線性度 (NL)
固態(tài)圖片噪聲 (FPN)
產(chǎn)品咨詢(xún)
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