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一體式集成OLED器件/顯示器表征、緊湊、綜合和用戶友好操作。

M3000 OLED參數測試系統由成像光譜儀和OLED參數測試儀組成，其技術組合可分析光電特性，如I-V-L、C-V、可視角、色坐標、光譜、亮度......；該設備專為高精度測量而設計，適用于與OLED、鈣鈦礦LED、QLED、Micro和Mini LED的顯示性能和表征相關的各種研究。

- I-V-L/壽命

- 電容/電壓（C-V）

- 光譜/亮度/顏色

- 電流效率/功率效率/量子效率

- 可視角測量

- 溫度依賴性