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SPM-8100FM 高分辨原子力顯微鏡
觀察生動的納米世界
使用調頻模式的新型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環境中實現超高分辨率，而且**觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。
HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡
特點
使用調頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一
在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率
現有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上， 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。
| SPM | ： | 掃描探針顯微鏡 |
| AFM | ： | 原子力顯微鏡 |
| AM | ： | 調幅模式 |
| FM | ： | 調頻模式 |
注: KPFM需要特定的基底。
KPFM: 掃描開爾文顯微鏡
引用文獻：
Ryohei Kokawa， Masahiro Ohta， Akira Sasahara， Hiroshi Onishi， Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment， Chemistry - An Asian Journal， 7， 1251-1255 (2012).
在動態模式下，測量懸臂的振動頻率，從而測得懸臂和樣品間的相互作用力。具體來說，為了使懸臂的頻率偏移(△f)保持一定，讓懸臂在非接觸狀態下運動。與以往相比，對力的檢測靈敏度提高了20倍以上，因此圖像的分辨率也大大提升。
*外觀及規格如有更改，恕不另行通知。
