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NTT-AT公司的用于各種XUV實驗的極紫外(XUV或EUV)濾光片具有高透明度、高穩定性和長使用壽命。此優質濾光片無針孔、無支撐網和支撐膜,并覆有抗氧化涂層。
NTT-AT公司提供的優質無支撐XUV 濾光片在金屬薄膜兩側覆有抗氧化涂層,實現了高透明度和長使用壽命。
NTT-AT公司的用于各種XUV實驗的極紫外(XUV或EUV)濾光片具有高透明度、高穩定性和長使用壽命。此優質濾光片無針孔、無支撐網和支撐膜,并覆有抗氧化涂層。
濾光片尺寸:6毫米×10毫米
濾光片厚度:100納米
支架尺寸:直徑 28毫米
濾光片列表:
Zr(用于波長10至20納米)
Al(用于波長20至50納米)
Sn、SiN(用于波長3至5納米)
In、SiN(用于波長3至5納米)
尺寸、厚度等可根據需求定制。
在本公司的演示中,NTT-AT公司的抗氧化Al XUV 濾光片制造后3個月時的透明度比傳統Al濾光片高2至5倍。因抗氧化涂層的作用,該XUV 濾光片能長時間穩定使用。
NTT-AT公司的抗氧化Al XUV濾光片 |
NTT-AT公司的XUV、EUV濾光片因為無支撐網和支撐材料,所以具有出色的高透明度和透射光束質量。因能長時間穩定使用,該濾光片已被用于許多需要長時間輻射的實驗環境。