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MJ33正置明暗視場透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.

MJ33明暗場金相顯微鏡性能特點：

• 采用無限遠光學系統及模塊化功能設計。

• 長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。

• 廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。

• 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。

• 內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉。

• 上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。

• 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。