粉體行業(yè)在線展覽
ParticleMetric
面議
飛納
ParticleMetric
7327
粉末冶金
飛納掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具
使用基于飛納臺(tái)式掃描電鏡(Phenom SEM)的 ParticleMetric 顆粒測(cè)試工具,以*快、*簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的 Phenom 飛納掃描電鏡,加上 Particle Metric 顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據(jù)需要,隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸、短軸長(zhǎng)度(橢圓)、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù),*終實(shí)現(xiàn) ParticleMetric 加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。
飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能
1.可進(jìn)行以下顆粒分析
顆粒尺寸范圍:100nm ~ 0.1mm
顆粒探測(cè)速度:高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘
顆粒測(cè)量屬性:大小、形狀、數(shù)量
2.可以測(cè)量的顆粒參數(shù)
面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(zhǎng)、寬高比
充實(shí)度、伸長(zhǎng)率、灰度等級(jí)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度(橢圓)
凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?/span>
3.可以提供的圖形顯示
按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖
任何指定參數(shù)的散點(diǎn)圖
單個(gè)顆粒的 SEM 圖像
4.可以提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報(bào)告,TIFF 格式的圖像
CSV 文件,離線分析的項(xiàng)目文件(.PAME)ProSuite 的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 工具的優(yōu)勢(shì)
1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像,方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù);
2. 全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng) ParticleMetric 軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺(jué)效果,為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù);
3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性,生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成,以便揭示相關(guān)聯(lián)系和趨勢(shì);
4. 直接由 Phenom 獲取圖像,識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來(lái)顆粒,關(guān)聯(lián)顆粒物的特征,比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度;
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡(jiǎn)單化和可視化;
6. 無(wú)限制的圖像采集,可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤(pán),便于共享、交流或以后參考;
7. Phenom 的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力,用戶可以將試樣**程度視覺(jué)化;
8. 附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域
化妝品行業(yè);食品行業(yè);化工行業(yè);制藥行業(yè);陶瓷;顆粒以及表面涂層;顆粒狀添加劑;環(huán)境顆粒;濾器/篩網(wǎng)公司
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美國(guó)Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH