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SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率 線 陣 CCD（Charge-coupled Device） 作 為 檢 測(cè) 器， 實(shí)現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更穩(wěn)定，服務(wù)期限更長(zhǎng)久。海量的譜線使分析不再受限，曲線分段跳轉(zhuǎn)同一元素不同譜線間實(shí)現(xiàn)無(wú)縫銜接，拓展分析范圍，第三元素干擾校正使元素分析更加準(zhǔn)確，可在用戶現(xiàn)場(chǎng)任意增加分析基體和分析元素而無(wú)需增加硬件，維護(hù)保養(yǎng)簡(jiǎn)單方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適用于各種不同材料；網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強(qiáng)。

SparkCCD 7000 可廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè)，在汽車(chē)制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原材料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用。可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析。

儀器特點(diǎn)：

全固態(tài)數(shù)字火花光源

? 全固態(tài)數(shù)字火花光源（國(guó)家**技術(shù) **號(hào) ZL 2010 1 0118150.4）

? 能量、頻率連續(xù)可調(diào) 頻率**可達(dá) 1000Hz

? MTBF（平均無(wú)故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)

同軸自旋式氣路激發(fā)臺(tái)

? 自旋氣路

? 增壓式自吹掃 激發(fā)充分

? 千次激發(fā)無(wú)需清理

恒溫系統(tǒng)

? 硅膠加熱片，加熱均勻、穩(wěn)定

? 高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度 ±0.1℃ 多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定

采集系統(tǒng)

? 網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠

? 多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高

自保護(hù)透鏡隔離閥

? 便于維護(hù) 消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染

高速智能校正

? 單次激發(fā)即可校正全譜

? 自動(dòng)校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性

第三元素干擾

? 自動(dòng)扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

曲線分段跳轉(zhuǎn)

? 元素含量高低曲線分段，自動(dòng)匹配，分析范圍廣

? 未知樣品自動(dòng)匹配**分析程序

分析軟件

? 簡(jiǎn)潔清新、功能強(qiáng)大 多語(yǔ)言版本（中、英、俄、德） 智能冶煉配料計(jì)算

? 牌號(hào)識(shí)別

? 支持碳當(dāng)量等自動(dòng)計(jì)算功能

儀器參數(shù)：

檢測(cè)器靈敏度行業(yè)**

? 高分辨率 CCD 檢測(cè)器

? 像素?cái)?shù)：3648+46 全行業(yè)** 像素尺寸： 8μm 全行業(yè)*小

? 精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬(wàn)級(jí)超凈環(huán)境下打造**光學(xué)系統(tǒng)

? 帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)像差，分辨率均勻

? 高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)** 線分辨率 0.7407nm/mm

? 像素分辨率 0.005926nm

? 譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，再啟動(dòng)耗時(shí)行業(yè)*低

? 潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min

? 智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗

?   60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天

分片式曝光，痕量元素識(shí)別強(qiáng)度大幅提高，檢出限更低

? 一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)

? 獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間 提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的 檢出限

?   隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的 穩(wěn)定性