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產品介紹:
Morphologi G3針對從0.5微米至幾毫米的顆粒粒度及粒形測量提供先進便捷的測量工具。 該儀器可靈活地運用于科研及故障診斷應用,為自動化質量控制分析提供無用戶干預的分析結果與確認。 該技術通常與激光衍射技術共同使用,以便更深入地了解產品或工藝狀態。
Morphologi G3采用靜態圖像分析技術測量顆粒粒度及粒形。 全自動化與集成式干法樣品制備的特點使其成為昂貴耗時的人工顯微測量方法的理想替代品。
特點:
自動化SOP控制的無人值守式運行與可重復的結果使生產率直線上升。
質量**的顯微圖像保證準確表征
一體化的干粉分散系統配有精確的分散控制功能,自動準備好樣品,對硬脆材料和堅固材料能進行可重復、可再現測量
作為共享的實驗室資源,先進的人工顯微控制模式可提供更多的價值
在膜濾器上快速實現自動化顆粒計數
直觀強大的軟件界面可使您更容易地對數據進行直觀判定與統計分析。
主要參數:
技術:靜態自動成像
顆粒粒度:0.5 μm–1000μm* (在某些應用中,測量上限可達到10mm*)
測量的顆粒特性:粒度、粒形、透明度、數量、位置
粒度參數:等效直徑、長度、寬度、周長、面積、**距離、等效體積、纖維總長、纖維寬度
粒形參數:長寬比、圓度、凸度、延伸度、高靈敏圓度、纖維延伸度、纖維伸直度
顆粒透明度參數:灰度平均值、灰度標準偏差
分散機理:樣品在分散過程中會導致顆粒的剪切和顆粒碰撞。
分散壓力范圍: 0.5–5bar
分散壓力精度:0.1bar增量
進樣時間范圍:5-100msec
樣品處理時間:1-600sec
注,
*:以樣品及樣品培養基為準。
BT-9300S
Winner2000B
online
S3500系列
Spraytec
ANALYSETTE 22 MicroTec plus
DP-02型
MET ONE FMS
HELOS-RODOS
NKT5200-H
LA-300 、LA-920
JZ-7